電子測量與測控一體化解決方案提供商
金凱博功率器件測控蘇州站：與金凱博面對面，破解功率器件可靠性測試真章——精準聚焦IDM/模塊廠、新能源電驅(qū)、光伏逆變核心需求
在功率半導(dǎo)體器件邁向車規(guī)級、工業(yè)級超高可靠性的今天，讓我們相約蘇州CIAS2025半導(dǎo)體大會,共同分享半導(dǎo)體行業(yè)的最新成果。CIAS2025 金凱博A18展位，將與您面對面，直擊功率半導(dǎo)體測試效率、標準合規(guī)、成本控制三大核心命題。
在功率半導(dǎo)體測控領(lǐng)域，金凱博憑借30年的測控經(jīng)驗和技術(shù)積累，提供功率半導(dǎo)體測控整體解決方案，產(chǎn)品系列涵蓋：KC-3150功率半導(dǎo)體動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)、KC-3130功率循環(huán)測試機、KC-3110高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)/IV曲線&CV曲線圖示儀、KC-3120動態(tài)參數(shù)分析測試系統(tǒng)。以KC-3130功率循環(huán)測試機為例，標準負載電流為 1000A，最大可擴展至 6000A，可滿足市面上所有功率器件的測試需求（包含Si/SiC/GaN/GaAs 材料的 IGBT、MOSFET 和二極 管等不同類型功率器件）；可同時進行 6 個待測器件的測試（可升級至12 測試通道），定制化服務(wù)最大可拓展到 24 個通道，極大的提高測試效率和設(shè)備自身的可靠性。 KC-3130功率循環(huán)測試機廣泛應(yīng)用于功率半導(dǎo)體IDM/模塊廠、新能源電驅(qū)供應(yīng)商、光伏逆變等領(lǐng)域功率器件測試。
如果您對金凱博功率器件測試系統(tǒng)感興趣，請關(guān)注即將于4月23日-24日蘇州舉辦的CIAS2025 動力·能源與半導(dǎo)體大會，作為半導(dǎo)體行業(yè)的盛會，CIAS2025將匯聚眾多頂尖廠商和最新技術(shù)，金凱博將在A18展位展示其最新的功率半導(dǎo)體測試解決方案。直面產(chǎn)業(yè)真問題，賦能商業(yè)新增長，金凱博期待您的蒞臨！
2025.04.23-24· 蘇州·知音溫德姆至尊酒店· 展位號: A18
金凱博功率器件測控設(shè)備
KC-3150功率半導(dǎo)體動態(tài)可靠性測試系統(tǒng)
KC-3105 測試系統(tǒng)中可同時完成HTRB和DHTRB測試，整體架構(gòu)模塊化，通訊協(xié)議、通訊接口等采用統(tǒng)一標準，便于后期擴展和維護。該系統(tǒng)集成度高、應(yīng)用覆蓋面廣，系統(tǒng)采用軟、硬件一體化設(shè)計且功能豐富，在保證系統(tǒng)穩(wěn)定運行的同時，可以快速滿足功率半導(dǎo)體可靠性測試需求。
AQG 324特別突出了功率循環(huán)試驗，在整個SiC-MOSFET壽命試驗相關(guān)內(nèi)容中，功率循環(huán)試驗不僅被列為首項，且占據(jù)的篇幅超過其他所有試驗項目之和。 KC-3130 測試系統(tǒng)中可同時秒級功率循環(huán)和分鐘級功率循環(huán)，整體架構(gòu)模塊化，通訊協(xié)議、通訊接口等采用統(tǒng)一標準，便于后期擴展和維護。 在保證系統(tǒng)穩(wěn)定運行的同時，可快速滿足功率半導(dǎo)體可靠性測試需求。KC3130可測Si/SiC/GaN/GaAs 材料的 IGBT、MOSFET 和二極管等不同類型功率器件，包括焊接式封裝和壓接式封裝、硅基和碳化硅基等大功率器件可靠性測試。KC-3130功率循環(huán)測試機符合國標和行業(yè)標準《Automotive Power Module Qualification Guideline 》AQG324，《Semiconductor devices-Discrete devices-Part 9: Insulated- gate bipolar transistors (IGBT)》IEC 60747-9:2007。
KC3110功率半導(dǎo)體高精度靜態(tài)特性測試系統(tǒng)，基于全新三代半SiC, GaN 器件和模塊以及車規(guī)級模塊的新興要求而進行的一次高標準產(chǎn)品開發(fā)。本系統(tǒng)可以在3KV和1000/2000A的條件下實現(xiàn)精確測量和參數(shù)分析，漏電流測試分辨率高達fA級，電壓測試分阱率最高可這nV級，以及3000V高壓 下的寄生電容的精密測量。全自動程控軟件，圖型化上位機操作界面。 內(nèi)置開關(guān)切換矩陣保證測試效率。模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計預(yù)留升級擴展?jié)撃堋y試接口可外掛各類夾具和適配器，還能夠通過專用接口連接各種 Handler：如分選機、機械手、探針臺、編帶機等。 可測Si、 SiC、 GaN 材料的IGBTs、 DIODEs、 LED、 MOSFETs、BJTs、 HEMTs、 電容、光耦。
KC3120功率半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)可針對各類型 GaN、Si基及SiC基二極管、MOSFET、IGBT等分立器件的各項動態(tài)參數(shù)測試，如開通時間、關(guān)斷時間、上升時間、下降時間、導(dǎo)通延遲時間、關(guān)斷延遲時間、開通損 耗、關(guān)斷損耗、柵極總電荷、柵源充電電量、平臺電壓、反向恢復(fù)時間、 反向恢復(fù)充電電量、反向恢復(fù)電流、反向恢復(fù)損耗、反向恢復(fù)電流變化率、反向恢復(fù)電壓變化率、輸入電容、輸出電容、反向轉(zhuǎn)移電容、短路。 通過更換不同的測試單元以達到對應(yīng)測試內(nèi)容，通過軟件切換可以選擇測試單元、測試項目及配置測試參數(shù)、讀取保存測試結(jié)果。
金凱博創(chuàng)建于1995年，現(xiàn)有員工350余人(其中50%為研發(fā)和技術(shù)人員)。企業(yè)致力于成為一流的電子測量與測控一體化解決方案提供商。獲得含18件發(fā)明專利、46件實用新型專利和68件軟著在內(nèi)的154件自主知識產(chǎn)權(quán)。經(jīng)過30年的發(fā)展，金凱博集團已成為測控領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè)，成為近300家新能源、汽車電子、智能家電、半導(dǎo)體等行業(yè)頭部品牌一級供應(yīng)商。
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